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環(huán)境試驗設(shè)備的計量項目、方法、計算

更新日期:2010-08-18  |  點擊率:6864

1、名詞解釋:
1)波動度:環(huán)境試驗設(shè)備在穩(wěn)定狀態(tài)下,工作空間中心點參數(shù)隨時間的變化量。
2)均勻度:環(huán)境試驗設(shè)備在穩(wěn)定狀態(tài)下,工作空間某一時刻各測試點(溫)之間    
的差異。
3)偏差:設(shè)備在穩(wěn)定狀態(tài)下,工作空間各測量點的實測zui高值和實測zui低值與標(biāo) 
稱值的上下偏差。
2、計量特性:溫偏差、溫波動度、溫均勻性
3、計量方法:
1)計量在空載條件下進行。若帶有負(fù)載,應(yīng)在證書中說明負(fù)載情況。
2)計量濁點一般應(yīng)選擇設(shè)備使用范圍的上限、下限及中心點,也可根據(jù)用戶需要選擇實際常用的溫點
3)計量點的位置:
 設(shè)備容積小于2m3時,溫度點9個,點3個
 設(shè)備容積大于2 m3,溫度點15個,溫度點4個
計算(以溫度為例)
波動度:△tf=±tomax-tomin/2
均勻度:△tu=Σttmax-ttmin/n
    I=1
偏差:△Tmax=Tmax-T標(biāo)
      △Tmin=Tmin-T標(biāo)2、
現(xiàn)在實行的軍用標(biāo)準(zhǔn)美軍標(biāo)
 MIL-STO-810
 GJB150~20-86軍用設(shè)備環(huán)境試驗方法
 GB/T5170-96電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法
 GB 2423電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗
 GB10592-89高低溫試驗箱技術(shù)條件
 GB10589-89低溫試驗箱技術(shù)條件
 GB10586-89濕熱試驗箱技術(shù)條件
 

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